Мошников

Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики, Мошников В.А., Спивак Ю.М., 2009

Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики, Мошников В.А., Спивак Ю.М., 2009.

  Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике.
Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 «Электроника и микроэлектроника», магистерским образовательным программам «Нанотехнология и диагностика», «Нано- и микросистемная техника» и 210600 «Нанотехнология». Также может служить для повышения квалификации преподавателей и научных работников.

Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики, Мошников В.А., Спивак Ю.М., 2009
Скачать и читать Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики, Мошников В.А., Спивак Ю.М., 2009