Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002


Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002.

  В учебном пособии рассмотрены физические основы и аппаратура для сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Основное внимание уделяется практическим особенностям метода. Приведены экспериментальные результаты, полученные с помощью СТМ. Показана перспективность метода для анализа морфологии и структуры поверхности.
Учебное пособие рассчитано на студентов старших курсов. Оно может быть полезно для аспирантов соответствующих специальностей и всех кто интересуется увлекательным миром физики поверхности.

Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002

Сканер.
Основным элементом конструкции микроскопа является сканер, который обеспечивает перемещение иглы вдоль поверхности, а также перпендикулярно поверхности образца. Практически во всех разновидностях СТМ используют пьезоэлектрические сканеры. Они обеспечивают перемещение на максимальное расстояние порядка нескольких микрон при приложении электрического напряжения в несколько сотен вольт. Естественно, что перемещение на доли А происходит при приложении долей вольта.

Наиболее широкое распространение получили два типа сканеров: трипод и трубчатый сканер (Рис. 1.3). В классическом триподе перемещение иглы перпендикулярно поверхности образца обеспечивается за счет растяжения или сжатия пьезокристалла Z, в то время как сканирование вдоль поверхности обеспечивается за счет пьезокристаллов X и Y. Трубчатый сканер представляет собой пьезокристаллическую трубку с напыленными на нее снаружи и изнутри Ag электродами. Сканирование осуществляется за счет изгиба сканера относительно его оси при подачи напряжений противоположной полярности на электроды Х+, Х- и Y+, Y-. Перемещение иглы перпендикулярно поверхности образца обеспечивается за счет растяжения или сжатия трубки при подачи напряжения на внутренний электрод Z.

ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение
1. Основы сканирующей туннельной микроскопии
1.1 Физические принципы
1.2 Конструкция
1.2.1 Сканер
1.2.2 Система грубого подвода
1.2.3 Система виброизоляции
1.2.4 Электроника СТМ и система управления и сбора данных
1.3 Основные режимы работы СТМ
1.3.1 Режим постоянного тока
1.3.2 Режим постоянной высоты
1.3.3 Сканирующая туннельная спектроскопия
2. Более детально о технике СТМ
2.1 Игла
2.1.1 Подготовка иглы ex situ
2.1.2 Подготовка иглы in situ
2.1.3 Артефакты иглы
2.2 Сканер
2.2.1 Пьезокерамика
2.2.2 Нелинейность сканера
2.3 Образец
3. СТМ для анализа поверхности
3.1 Атомарно-чистые поверхности кремния
3.1.1 Si(100)
3.1.2 Si(111)
3.2 Количественная СТМ
3.2.1 Покрытие адсорбата
3.2.2 Плотность атомов Si в верхнем слое
3.2.3 Координаты атомов на поверхности
3.2.4 Миграция атомов по поверхности
4. Заключение
Литература.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате и читать:

Скачать книгу Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать




Скачать книгу Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002 - djvu - depositfiles.

Скачать книгу Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002 - djvu - Яндекс.Диск.
Дата публикации:





Теги: :: :: ::


Следующие учебники и книги:
Предыдущие статьи:


 


 


Книги, учебники, обучение по разделам




Не нашёл? Найди:





2016-12-10 22:58:33